簡(jiǎn)要描述:布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡在*技術(shù)節(jié)點(diǎn)上,利用多圖案光刻技術(shù)對(duì)CMP提出了納米工藝控制要求,以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新一代的AFM掃描儀構(gòu)建,可在65μmX / Y掃描范圍內(nèi)提供小于10納米的改進(jìn)平面度。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子,交通,汽車 |
布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡
基于生產(chǎn)的深度計(jì)量
布魯克的InSight CAP自動(dòng)原子力輪廓儀專門設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體制造商和供應(yīng)商的CMP和蝕刻計(jì)量的組合平臺(tái)。InSight CAP系統(tǒng)具有300毫米自動(dòng)處理功能和久經(jīng)考驗(yàn)的GEM工廠自動(dòng)化軟件。
InSight CAP提供
布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡計(jì)量
在*技術(shù)節(jié)點(diǎn)上,利用多圖案光刻技術(shù)對(duì)CMP提出了納米工藝控制要求,以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞一代的AFM掃描儀構(gòu)建,可在65μmX / Y掃描范圍內(nèi)提供小于10納米的改進(jìn)平面度。該系統(tǒng)的NanoScope®V 64位AFM控制器提供5倍的接合性能和5倍的調(diào)諧速度,以提高生產(chǎn)率,同時(shí)還具有增強(qiáng)的可靠性。其DT自適應(yīng)掃描模式還有助于加快掃描速度并改善計(jì)量。憑借其*功能的結(jié)合,InSight CAP高分辨率輪廓儀可實(shí)現(xiàn)埃級(jí)精度,以測(cè)量宏觀凹陷和腐蝕。
價(jià)值平臺(tái)
靈活的配置可支持100毫米至300毫米的晶圓尺寸,從而可以針對(duì)各種終應(yīng)用進(jìn)行精確測(cè)量。從高效的實(shí)驗(yàn)室到全自動(dòng)的晶圓廠,InSight CAP Profiler可以針對(duì)經(jīng)濟(jì)高效的計(jì)量解決方案進(jìn)行配置。
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