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    • EM TEST VDS 200Q電壓變化模擬器
      EM TEST VDS 200Q電壓變化模擬器

      EM TEST VDS 200Q電壓變化模擬器VDS 200Q 系列用于模擬符合標(biāo)準(zhǔn)和眾多汽車廠家標(biāo)準(zhǔn)要求的多種電池供電波形,其中的汽車廠家標(biāo)準(zhǔn),因其對(duì)測(cè)試要求的復(fù)雜性,而成為 VDS 200Q 系列所覆蓋的重要部分。 此外,VDS 200Q 系列還可作為強(qiáng)大的直流電壓源,在汽車瞬變脈沖測(cè)試中為被試設(shè)備供電。VDS 200Q 系列滿足 42 V、24 V 和 12 V 全部三種供電電壓類型。

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    • Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)/高阻表
      Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)/高阻表

      Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)/高阻表吉時(shí)利5位半6517B靜電計(jì)/高阻表提供的精 度和靈敏度指標(biāo)高于其他同類型儀表。它還具有 完備的功能,使測(cè)量高阻和絕緣材料電阻率變得 簡(jiǎn)單。6517B具有425讀數(shù)/秒的測(cè)試速率,比同 類型的靜電計(jì)快很多,可以提供快速、簡(jiǎn)易的弱 電流測(cè)量能力測(cè)量弱電流。 主要特點(diǎn):

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    • Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)
      Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)

      Keithley吉時(shí)利6517B 靜電計(jì)從三個(gè)敏感選項(xiàng)中選擇,實(shí)現(xiàn)高阻抗和低電流測(cè)量。5½ 位 6514 型和 6517B 型靜電計(jì)提供 1fA 靈敏度,輸入阻抗 200TΩ 的電壓測(cè)量,以及低至 10fC 的電荷測(cè)量。6½ 位 6430 型亞 fA 遠(yuǎn)程 SourceMeter SMU 儀器能夠以 1aA 的靈敏度測(cè)量電流。其噪聲低、偏差小,非常適用于研究單電子器件、高電阻納米線和納米管

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    • EM TEST UCS200N汽車電子設(shè)備抗擾度測(cè)試
      EM TEST UCS200N汽車電子設(shè)備抗擾度測(cè)試

      EM TEST UCS200N汽車電子設(shè)備抗擾度測(cè)試汽車瞬變脈沖超小型傳導(dǎo)抗干擾信號(hào)模擬器,可模擬汽車瞬變1、2、3a/3b脈沖UCS 200N 汽車瞬變脈沖超小型傳導(dǎo)抗干擾信號(hào)模擬器將電快速瞬變脈沖群模擬器、微脈沖模擬器和所需的耦合網(wǎng)絡(luò)集成在一臺(tái)設(shè)備當(dāng)中。UCS200N 能夠滿足標(biāo)準(zhǔn)和眾多汽車制造商的標(biāo)準(zhǔn)要求。根據(jù)模塊的不同,內(nèi)置耦合網(wǎng)絡(luò)的大電流可達(dá)到200A。

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    • EM TEST DITO靜電放電模擬器
      EM TEST DITO靜電放電模擬器

      EM TEST DITO靜電放電模擬器的設(shè)計(jì)可以滿足不同要求的ESD測(cè)試,它的電池可支持5萬(wàn)次的16.5kV的放電。內(nèi)置菜單可以引導(dǎo)用戶按照標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,幫助您評(píng)估測(cè)試點(diǎn)。dito不同于其它的ESD發(fā)生器,它的放電電壓可以被測(cè)量和記錄。當(dāng)電池提示低電壓時(shí),放電將自動(dòng)停止,所有這些都可以確保您測(cè)試的可靠性。不需要拆卸dito,您就可以輕松的更換放電頭和放電網(wǎng)絡(luò),放電模塊可以被自動(dòng)識(shí)別。

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    • EM TEST DPA 503N 三相諧波閃爍分析儀
      EM TEST DPA 503N 三相諧波閃爍分析儀

      EM TEST DPA 503N 三相諧波閃爍分析儀DPA 503N - 全兼容三相諧波和閃爍分析儀 諧波和諧間波是由現(xiàn)代電子功率調(diào)整模塊引起的,這些用于控制負(fù)載和減小功耗的非線性模塊是供電系統(tǒng)中諧波電壓的來(lái)源。

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    • EM TEST DPA500N 單相諧波閃爍分析儀
      EM TEST DPA500N 單相諧波閃爍分析儀

      EM TEST DPA500N 單相諧波閃爍分析儀EM TEST成立于1987年7月1日,在EMC 測(cè)試領(lǐng)域有著多年開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、應(yīng)用以及銷售經(jīng)驗(yàn),集中他們的智慧組建了EM TEST 公司。初,他們就以革新作為努力的方向,要提供給*擁有*技術(shù)和不同于其他競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的測(cè)試設(shè)備。今天,EM TEST的測(cè)試設(shè)備已經(jīng)得到了*的認(rèn)可。

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    • EM TEST AIF 503N 三相閃爍阻抗
      EM TEST AIF 503N 三相閃爍阻抗

      EM TEST AIF 503N 三相閃爍阻抗能夠提供滿足兩種測(cè)試應(yīng)用需求的阻抗值(AIF 503N16 除外)。它既能提供符合 IEC 60725 標(biāo)準(zhǔn)閃爍測(cè)量要求和 IEC/EN 61000-3-3 標(biāo)準(zhǔn)要求的閃爍阻抗值,又能提供對(duì)額定電流大于 16A 并連接到供電電流大于 100A 的低壓供電網(wǎng)絡(luò)上的 DUT 進(jìn)行閃爍測(cè)量所需的阻抗值。

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