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簡要描述：測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫和低溫，加速芯片內(nèi)各種組件材料和結(jié)合面的熱機(jī)械應(yīng)力，驗證封裝、內(nèi)部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機(jī)械應(yīng)力能力。IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-29訪 問 量：1647產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣 |
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華科智源-IOL間歇壽命測試系統(tǒng)，測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫和低溫，加速芯片內(nèi)各種組件材料和結(jié)合面的熱機(jī)械應(yīng)力，驗證封裝、內(nèi)部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機(jī)械應(yīng)力能力。
| 主要技術(shù)規(guī)格和性能: | ||
| 產(chǎn)品型號 | HK-IOL-16H | |
| 產(chǎn)品名稱 | 間歇壽命試驗系統(tǒng) | |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | 試驗線路及試驗方法滿足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求 適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩(wěn)態(tài)壽命試驗。 | |
| 試驗通道 | 16個 （一板一區(qū)） | |
| 試驗容量 | 40×16=640位 | |
| 基本功能 | ①每個通道提供一組獨(dú)立程控電源。 | |
| ②對于三極管、MOSFET器件試驗，可提供部分工位Tj檢測或全部工位Tj檢測。二極管試驗提供全部工位Tj檢測。 | ||
| ③對于二極管，每工位試驗電流范圍為0～15A，并聯(lián)后最大可提供60A試驗電流。MOSFET及IGBT器件試驗每工位18W試驗功率。只需減少試驗工位，就可增加器件的試驗功率。 | ||
| ④可使用外部電源。如配置TDK、安捷倫等品牌電源。 | ||
| 計算機(jī) | 工業(yè)級電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)。WINDOWS操作界面，友好的人機(jī)對話窗口， 強(qiáng)大的圖形編輯能力以及強(qiáng)大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學(xué)。更有系統(tǒng)查詢診斷功能， 試驗狀況一目了然，方便用戶隨時查驗。 | |
| 老化板 | 老化板采用子母板的方式，只需更換子板即可試驗不同封裝的器件。 | |
| 電網(wǎng)要求 | 單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW | |
| 外形尺寸 | W1620mmхH1820mmхD1320mm | |
| 重量 | 約600kg | |
IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H
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