CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；

操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；

可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

產(chǎn)品型號(hào)：CH-12
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-01-27
訪問(wèn) 量：1370

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探針臺(tái)

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品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,汽車(chē),電氣

CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)/應(yīng)用

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)

大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無(wú)回程差設(shè)計(jì)

針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能

晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，可無(wú)縫升級(jí)

探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。

CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；

操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；

可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

臺(tái)體規(guī)格：

型號(hào)	CH-8/CH-12
樣品臺(tái)尺寸	8英寸/12英寸
水平旋轉(zhuǎn)	可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動(dòng)行程	8英寸8英寸/12英寸12英寸
X-Y移動(dòng)精度	10微米/1微米
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺(tái)	U型針座平臺(tái)，多可放置10個(gè)探針座
平臺(tái)升降	可快速升降6mm/可微調(diào)升降25mm
背電極測(cè)試	樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸	840mm長(zhǎng)600mm寬700mm高/950mm長(zhǎng)700mm寬700mm高
重量	約100千克/150千克

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