簡要描述:布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡 高分辨率成像 -無論何時,不論哪次? 完整的納米尺度定量信息 ? 潛力無限 – 靈活,開放? 超乎想象的簡單
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,建材,電子,印刷包裝,汽車 |
布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡
分辨率成像-無論何時,不論哪次
完整的納米尺度定量信息
潛力無限–靈活,開放
超乎想象的簡單
使研究人員通過PeakForce Tapping®技術(shù)能夠隨時得到高分辨率的圖像。
在樣品上每個原子實現(xiàn)力掃描。
在感興趣的位置操作獲得高分辨率圖像。
點缺陷的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像
通過快速輕敲,不降低效果的同時增加掃描速度
經(jīng)由自適用掃描選項達(dá)到nm級粗糙度樣品上4倍速度的提升
在氧化硅片上快速輕敲
在ITO上快速輕敲
采用雙向掃描選項即刻實現(xiàn)成像速度翻倍
采用布魯克專有的高速探針,結(jié)合已知佳規(guī)程(BKM)可將掃描速度提高10倍
Fastscan-C Probe
使研究人員能夠通過經(jīng)常PeakForce Tapping®獲得高分辨率圖像。
可信的納米級粘彈性表征
以偽彩示意損耗模量,疊合以三維形貌數(shù)據(jù)。藍(lán)色區(qū)域有較高的損耗模量,紅色區(qū)域則較低,分別對應(yīng)于聚苯乙烯(PS)基質(zhì)和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)摻入物。損失模量數(shù)據(jù)圖通過接觸共振原理的布魯克FASTForce Volume納米力學(xué)模式獲得。5微米掃描范圍,~ 590kHz, 256x256點采集。
間列聚丙烯疇(紫色)被聚甲基丙烯酸甲酯(藍(lán)綠色)基體包圍。在形貌數(shù)據(jù)上疊合模量數(shù)據(jù)可簡易地區(qū)分組分,顯示出間列聚丙烯薄片在PMMA基體中擴(kuò)展。圖像尺寸8微米。
常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)
獲取納米力學(xué)和納米化學(xué)數(shù)據(jù)的高級AFM研究
在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能。
直立碳納米管的電流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。
左:通過PeakForce Capture™獲取原子級力立方,顯示垂直截面上單顆原子的位置。右:PeakForce Capture平均數(shù)據(jù)顯示出可溶解結(jié)構(gòu)的的證據(jù)。
獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù),從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制。
實時研究原子化學(xué)信息。
峰值力輕敲高度像(左)和力曲線(右),顯示了表面原子排列以及在方解石和云母上樣品-探針間原子級相互作用的差異。
使研究人員通過PeakForce Tapping®技術(shù)獲得高分辨率圖像。
先使用已有的測量模式;如果沒有,創(chuàng)造一個。
左:手套箱中的原子力顯微鏡-拉曼聯(lián)用。右:光導(dǎo)AFM附件
在開放的平臺上直接進(jìn)行改造, 與其它技術(shù)聯(lián)用。
直接控制軟件和硬件,選擇一個容易的方法:串行通訊端口,信號測試盒,Nanoman/Litho和力腳本等。
左:通過COM口連入NanoScope軟件的儀器集成實例。右:在C++中進(jìn)行NanoScript編程
ScanAsyst® 圖像優(yōu)化軟件,讓所有使用者能夠獲得專家級結(jié)果。
NanoScope®世界上被認(rèn)可的,被引用多的原子力顯微鏡。
布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡技術(shù)細(xì)節(jié):
Dimension® Icon™優(yōu)秀的圖像分辨率,與Bruker*的電子掃描算法相結(jié)合,顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位,的Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新,配置溫度補(bǔ)償位置傳感器,實現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平,將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上,效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺AFM的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計的XYZ閉環(huán)掃描頭,即使在較高的掃描速度工作時,也不會損壞圖像質(zhì)量,實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
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