激光器芯片測試系統(tǒng)是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器,半導(dǎo)體激光器芯片各種光學(xué)和電學(xué)性能,壽命、熱特性和可靠性的測試系統(tǒng)。
聯(lián)訊儀器CT8201激光器芯片測試系統(tǒng)是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠(yuǎn)場參數(shù)測試需求開發(fā)的。
聯(lián)訊儀器CT8201激光器芯片測試系統(tǒng)是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠(yuǎn)場參數(shù)測試需求開發(fā)的。系統(tǒng)集成了①DUT ID掃描→②從晶圓環(huán)上料→③運(yùn)輸→④高/低溫測試→⑤下料→⑥分揀歸類。
聯(lián)訊儀器CT8201支持前向/后向光測試。支持多溫區(qū)測試:3個測試座以支持高溫/低溫/常溫并行測試。
聯(lián)訊儀器CT8201測試效率非常快,可以在8s內(nèi)完成上述6個流程。非常適合大批量量產(chǎn)應(yīng)用。系統(tǒng)采用偏心凸輪結(jié)構(gòu)、高重復(fù)性步進(jìn)電機(jī)計(jì)、高精密夾具以及連接桿結(jié)構(gòu),使其具有超高的精度和穩(wěn)定性。
芯片ID識別成功率:99%
ESD保護(hù):所有和DUT相關(guān)的材料都是ESD防護(hù)的,良好接地
分類功能:支持4-6 晶圓盤,軟件配置分類計(jì)劃
激光器驅(qū)動類型:每個芯片獨(dú)立驅(qū)動
時間探測:功率丟失、網(wǎng)絡(luò)丟失、短路、開路和過溫